LCR測試儀測量元器件如何進行連接、校準(zhǔn)?
點擊次數(shù)：2832 更新時間：2021-01-26
LCR測試儀就是用來測試元器件（電容/電感/電阻）參數(shù)的慢體驗。在一般情況下指導，電阻只要測量其直流電阻值就可以了競爭力，這樣可以使用萬用表或者電阻測試儀。
用儀器測量元器件的參數(shù)時規則製定，其關(guān)鍵問題是測量誤差製造業。它的誤差來源主要有兩部分，首先是測試儀本身的內(nèi)部誤差關規定，其次是由不正確校準(zhǔn)發展基礎、測試件的連接方法及不正確選擇測量電路模型引起的。一般連接方法越麻煩越能準(zhǔn)確地測量出元器件的參數(shù)建強保護。
LCR測試儀的校準(zhǔn)
首先對測試儀進行開路校準(zhǔn)同期，開路校準(zhǔn)主要是消除測試夾具與被測件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納。其次是進行短路校準(zhǔn)使命責任，通過一短路條（用低阻抗的金屬板）將高效果、低電極相連。短路校準(zhǔn)主要是消除測試夾具與被測件相串聯(lián)的殘余阻抗的影響合規意識。
選擇測量電路模型
對于小電容密度增加、大電感來說有效性，電抗一般都很大。這意味著并聯(lián)電阻的影響相對于小數(shù)值串聯(lián)電阻更加顯著機遇與挑戰，所以應(yīng)采用并聯(lián)電路模型廣泛關註。相反，對于大電容集成技術、小電感則采用串聯(lián)模型就能壓製。大于10K11左右用并聯(lián)，小于10KQ左右用串聯(lián)適應能力。
LCR測試儀與被測件的連接
對測試電纜和被測件進行屏蔽更優美，通過抑制雜散電容，減少對高阻抗測試的測量誤差防控。一般用于小電容的測量成效與經驗。為了將測試引線的雜散電容減小，測試電纜引線的中心導(dǎo)體應(yīng)維護盡可能短深刻內涵，測量接頭的屏蔽與電纜中心導(dǎo)體互聯(lián)傳遞，以降低對地雜散電容的影響。
隨著科學(xué)應(yīng)用技術(shù)不斷發(fā)展的需要貢獻，LCR測試儀的測量精度要求越來越重要規模最大，因此測量方法的好壞對保征產(chǎn)品質(zhì)量和提高企業(yè)經(jīng)濟效益有著一定的實際意義。
