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日本日置C測試儀 3506-10概述
封裝機影響、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
■ BIN功能
C測量根據(jù)測量值樶多分類為14個等級※1深入，易于進行分揀等著力增加。 ※1 3506,3505樶多為13個等級大部分。3504-40無BIN功能提單產。
■ 比較器功能
第yi參數(shù)(C)更為一致、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值可以使用。判定結(jié)果可進行蜂鳴更加堅強、LED顯示以及外部輸出與時俱進，設(shè)定值始終顯示。
■ 存儲功能
測量數(shù)據(jù)可保存在主機初步建立嵤w系？赏ㄟ^GP-IB，RS-232C讀出各有優勢⌒Ч^好！?506-10 ………………………………..1,000個 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000個
■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示
只需從面板標記項目中進行選擇，操作簡單持續。設(shè)定好的測量條件會點亮開拓創新，能夠一目了然把握設(shè)定條件。
■ 觸發(fā)同步輸出功能
施加觸發(fā)后輸出測量信號必然趨勢，僅在測量時將信號施加到被測物上促進善治。因為是在接觸被測物時流過大電流，因此能夠減少接點的損耗多樣性。
■可存儲99※2組測量條件
樶多可保存99組測量條件發揮效力，可迅速對應在重復測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況∶黠@？衫肊XT I/O讀出任意測量條件安全鏈。 ※2 3506-10樶多為70組。
■標配接觸檢查功能
可檢測出測量過程中的接觸錯誤創新為先≌嬲龅?？闪硗夤芾碛羞^接觸錯誤的樣品，對提高成品率做出貢獻創新延展。
日本日置C測試儀 3506-10特點
★ 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
★ 提高了抗干擾性強化意識，在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復精度
★ 1kHz、1MHz測量下基本情況，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量
★ 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
