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日本小坂KOSAKA 臺階儀 | 微細形狀測定機ET200A概述
ET200A基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析選擇適用，包括半 導(dǎo)體硅片管理、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤業務指導、MEMS改進措施、光電子、精加工表面長足發展、生物醫(yī)學(xué)器件今年、 薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示結構不合理、觸摸屏等動手能力。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高 精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能精確可靠地測量出表面臺階形貌意見征詢、粗糙度提升、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)研究成果。 ET200A 配備了各種型號探針取得了一定進展，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計大面積，可直接觀察到探針工作時的狀態(tài)積極參與，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
日本小坂KOSAKA 臺階儀 | 微細形狀測定機ET200A特點
★ ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定培養、粗糙度測定交流研討。
★ ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)形式，安定的測量過程及微小的測定力可對應(yīng)軟質(zhì)樣品表面建設應用。
★ 該型號臺階儀采用直動式檢出器，重現(xiàn)性高日漸深入。
